容器組件
31WII光柵攝譜儀 二米平麵光柵攝譜儀
- 產品名稱：31WII光柵攝譜儀 二米平麵光柵攝譜儀
- 產品型號：31WII二米平麵光柵攝譜儀
- 產品廠商：上光
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簡單介紹
二手31WII光柵攝譜儀 二米平麵光柵攝譜儀；二手上光31WII光柵攝譜儀 二米平麵光柵攝譜儀質量保證；二手閒置，存貨不多，數量有限，售完即止。應用於金屬合金（包括礦物石）的日常定性定量分析，純金屬和材料的什質鑒定（包括純烯土元素分析）。還可以應用於對混合烯土材料的直接分析，對烯有金屬和其他多譜線元素進行分析
31WII光柵攝譜儀 二米平麵光柵攝譜儀
的詳細介紹
31WII光柵攝譜儀 二米平麵光柵攝譜儀
二手閒置，存貨不多，數量有限，售完即止。
二手上光31WII光柵攝譜儀 二米平麵光柵攝譜儀質量保證
產品型號： 31WII 光柵攝譜儀 二米平麵光柵攝譜儀
生產廠商： 國產 上光
主要技術指標
狹縫寬度範圍： 0～0.3 毫米
狹縫寬度分度值： 0.001 毫米
狹縫寬度再現性： 0.001 毫米
狹縫有效高度： 10 毫米
外行尺寸： 2400X1500X700 毫米立方
重量：約 150 公斤
儀器特點和應用範圍
譜麵平直在 240 毫米譜板內譜線清晰。
三塊光柵可方便地互換使用（根據配備光柵選擇合適的色散和靈敏波段）。
有高清晰靈敏度。
使用操作過程（對光、預燃、曝光，板移）自動控製。
該儀器主要應用於金屬合金（包括礦物石）的日常定性定量分析，純金屬和材料的什質鑒定（包括純烯土元素分析）。還可以應用於對混合烯土材料的直接分析，對烯有金屬和其他多譜線元素進行分析。
主要技術指標
狹縫寬度範圍： 0～0.3 毫米
狹縫寬度分度值： 0.001 毫米
狹縫寬度再現性： 0.001 毫米
狹縫有效高度： 10 毫米
外行尺寸： 2400X1500X700 毫米立方
重量：約 150 公斤
儀器特點和應用範圍
譜麵平直在 240 毫米譜板內譜線清晰。
三塊光柵可方便地互換使用（根據配備光柵選擇合適的色散和靈敏波段）。
有高清晰靈敏度。
使用操作過程（對光、預燃、曝光，板移）自動控製。
該儀器主要應用於金屬合金（包括礦物石）的日常定性定量分析，純金屬和材料的什質鑒定（包括純烯土元素分析）。還可以應用於對混合烯土材料的直接分析，對烯有金屬和其他多譜線元素進行分析。
注：產品照片為實物拍攝，供參考；本公司保留對產品進行改進提高的權利，屆時恕不另行通知客戶；本產品配置以及實際運費以裝箱清單及貨運距離為準。包裝箱為定製實木結構，故在**性上有保障，但相應重量及運費要高一些，請各位理解。
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