容器組件
15J測量顯微鏡 上光
- 產品名稱：15J測量顯微鏡 上光
- 產品型號：15J測量顯微鏡
- 產品廠商：上光
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簡單介紹
15J測量顯微鏡 上光，二手閒置，上光，含說明書裝箱單存貨不多，數量有限，售完即止。用作觀察顯微鏡，以比較檢查工作表麵光潔度，鑒定冶金工業的礦石標本。檢定印刷照相製版，檢驗紡織纖維等。轉動度盤測定角度，例如對刻度盤，樣板、量規，鑽孔模板及幾何形狀複雜的零件進行角度測量
15J測量顯微鏡 上光
的詳細介紹
15J測量顯微鏡 上光
二手閒置，上光，含說明書裝箱單存貨不多，數量有限，售完即止。
一、用途：
測量顯微鏡是光學計量儀器之一種，它的結構簡單，操作方便，適用範圍極廣，主要用途如下：
1、直角座標中測定長度，例如測定孔距，基麵距離，刻線距離，刻線寬度，鍵槽寬度，狹縫寬度，通孔圓直徑等等。
2、轉動度盤測定角度，例如對刻度盤，樣板、量規，鑽孔模板及幾何形狀複雜的零件進行角度測量。
3、用作觀察顯微鏡，以比較檢查工作表麵光潔度，鑒定冶金工業的礦石標本。檢定印刷照相製版，檢驗紡織纖維等。
二、規格：
二、規格：
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物鏡
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目鏡
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顯微鏡
放大倍數
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工作距離
（mm）
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視場直徑
（mm）
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放大倍數
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焦距（mm）
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放大倍數
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焦距（mm）
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2.5X
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43.40
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10X
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25.00
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25X
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58.84
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5.6
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10X
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17.13
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100X
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7.81
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1.4
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三、測量工作台讀數裝置主要規格
x軸移動測量範圍：50毫米
y軸移動測量範圍：13毫米
測微器分度值：0.01毫米
測量台刻度盤分度範圍： 0° - 360°
測量台刻度盤之分度值：1°
測量台刻度盤遊標讀數示值：6'
照明方式：反射光(自然光)
測量精度：儀器值誤差(5+L/15)微米
注：產品照片為實物拍攝，供參考；本公司保留對產品進行改進提高的權利，屆時恕不另行通知客戶；本產品配置以及實際運費以裝箱清單及貨運距離為準。包裝箱為定製實木結構，故在**性上有保障，但相應重量及運費要高一些，請各位理解。
