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31WII光栅摄谱仪 二米平面光栅摄谱仪
- 产品名称：31WII光栅摄谱仪 二米平面光栅摄谱仪
- 产品型号：31WII二米平面光栅摄谱仪
- 产品厂商：上光
- 产品文档：
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简单介绍
二手31WII光栅摄谱仪 二米平面光栅摄谱仪；二手上光31WII光栅摄谱仪 二米平面光栅摄谱仪质量保证；二手闲置，存货不多，数量有限，售完即止。应用于金属合金（包括矿物石）的日常定性定量分析，纯金属和材料的什质鉴定（包括纯烯土元素分析）。还可以应用于对混合烯土材料的直接分析，对烯有金属和其他多谱线元素进行分析
31WII光栅摄谱仪 二米平面光栅摄谱仪
的详细介绍
31WII光栅摄谱仪 二米平面光栅摄谱仪
二手闲置，存货不多，数量有限，售完即止。
二手上光31WII光栅摄谱仪 二米平面光栅摄谱仪质量保证
产品型号： 31WII 光栅摄谱仪 二米平面光栅摄谱仪
生产厂商： 国产 上光
主要技术指标
狭缝宽度范围： 0～0.3 毫米
狭缝宽度分度值： 0.001 毫米
狭缝宽度再现性： 0.001 毫米
狭缝有效高度： 10 毫米
外行尺寸： 2400X1500X700 毫米立方
重量：约 150 公斤
仪器特点和应用范围
谱面平直在 240 毫米谱板内谱线清晰。
三块光栅可方便地互换使用（根据配备光栅选择合适的色散和灵敏波段）。
有高清晰灵敏度。
使用操作过程（对光、预燃、曝光，板移）自动控制。
该仪器主要应用于金属合金（包括矿物石）的日常定性定量分析，纯金属和材料的什质鉴定（包括纯烯土元素分析）。还可以应用于对混合烯土材料的直接分析，对烯有金属和其他多谱线元素进行分析。
主要技术指标
狭缝宽度范围： 0～0.3 毫米
狭缝宽度分度值： 0.001 毫米
狭缝宽度再现性： 0.001 毫米
狭缝有效高度： 10 毫米
外行尺寸： 2400X1500X700 毫米立方
重量：约 150 公斤
仪器特点和应用范围
谱面平直在 240 毫米谱板内谱线清晰。
三块光栅可方便地互换使用（根据配备光栅选择合适的色散和灵敏波段）。
有高清晰灵敏度。
使用操作过程（对光、预燃、曝光，板移）自动控制。
该仪器主要应用于金属合金（包括矿物石）的日常定性定量分析，纯金属和材料的什质鉴定（包括纯烯土元素分析）。还可以应用于对混合烯土材料的直接分析，对烯有金属和其他多谱线元素进行分析。
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