平晶使用方法

日期：2026-10-05 14:54

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摘要：

平晶使用方法

平面平晶具体规格有Ф30mm；Ф45mm；Ф60mm；Ф80mm；Ф100mm；Ф150mm；Ф200mm；Ф250mm；Ф300mm共计九款。

平面平晶主要和NG-C2高精度钠光灯箱配套使用，用于以干涉法检验块规、量规、零件密封面、测量仪器以及测量工具量面的研合性和平面度，适用于光学加工厂、厂矿企业计量室、精密加工车间、阀门密封面现场检测使用，也适用于高等院校、科学研究等单位做平面度等检测。

测量时，把平晶放在被测表面上，且与被测表面形成一个很小的楔角，以单色光源照射时会产生干涉条纹。干涉条纹的位置与光线的入射角有关。如入射光线垂直于被测表面，且平晶与被测表面间的间隙很小，则由平晶测量面P 反射的光线与被测表面反射的光线在测量面 P 发生干涉而出现明或暗的干涉条纹。若在白光下，则出现彩色干涉条纹。如干涉条纹平直，相互平行，且分布均匀，则表示被测表面的平面度很好；如干涉条纹弯曲，则表示平面度不好。其误差值为，式中为两干涉条纹间距离，为干涉条纹的弯曲值，为光波波长，白光波长一般以0.6微米计算。

当干涉条纹平直、互相平行，且又均匀分布时，则说明其平面度好；当干涉条纹不规则、且无规律时，则说明其平面度不好。

平面平晶的干涉条纹平直则表示平面好.如果是彩色光圈一圈则是0.3微米,如看到不是一圈而是多圈则用所看到的圈数乘以0.3则是它的平面度.如是弧形则表示是0.3以下

根据干涉条纹计算平面度误差
1）测量时若出现向一个方向弯曲的干涉条纹，如图所示，调整平晶位置，使之出现3～5条干涉带，则平面度误差的近似值为：
f= (v/w)×(λ/2)
λ为光波波长，白光的平均波长为0.58μm,v为干涉带弯曲量，w为干涉带间距
但是如何**确定v和w的值,我也很迷惑!
2）根据光圈计算平面度误差
若被测平面凹或凸，则会出现环形干涉带，调整平晶的位置，使干涉带数为少，则平面度误差的近似值为：
f＝(λ/2) ×n
λ为光波波长，白光的平均波长为0.58μm；n为平晶直径方向上的光圈数

示意图如下：

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