长平晶的结构用途

长平晶的结构用途

核心摘要：简述长平晶的结构和用途。长平晶是以等倾干涉法检定研磨面平尺平面度的标准量具。长平晶按尺寸分为210mm和310mm两种。制造长平品

简述长平晶的结构和用途。长平晶的结构用途 长平晶的结构用途 长平晶的结构用途 长平晶的结构用途
    长平晶是以等倾干涉法检定研磨面平尺平面度的标准量具。长平晶按尺寸分为210mm和310mm两种。制造长平品的材料为K9光学玻璃。
    长平晶的非工作面上有表示受检点位置的十字刻线，对于210mm长平晶有7个十字刻线，刻线间隔为30mm，两端十字刻线距端面为15mm;对于310mm长平晶两端十字刻线距端面为20mm，刻线间隔为30mm，共有9个间隔，另外在对称中点位置上增加一个十字刻线，共有11个十字刻线。

长平晶的外形图如图7-30所示。外形尺寸见表7-10。
 

    使用长平晶时，考虑到其自重变形对测量的影响，且便于修正，应使长平晶支承在固定的位置上，并使工作面向下。一般常在工作面两端研合两块尺寸差小于0.1μm的0级量块;或用一专用钢球支承架，如图7-31所示，其支承钢球的尺寸差应在0.1μm以内。长平晶连同其支承一起放在被测表面上，用等倾干涉法进行平面度测量。

    长平晶工作面平面度见表7-11。
 

    长平晶主要用于研磨面平尺平面度的检定。

长平晶使用时注意什么问题?
    长平晶使用时应注意其支承与放置问题。
    由于长平晶属细长类形状的量具，其自重变形的状态和大小随支承形式及支承位置的不同而变化，一般长平晶不能像平面平品那样直接置于被测表面上检测。检测时必须在规定位置上放上支承块，一般可在工作面两端研合两块尺寸差小于0.1μm的量块，或用专用钢球支承架。将长平晶工作面向下安放在被检表面上，用等倾干涉法检测。
    由于长平晶自重的影响，因此长平晶工作时其工作面的平面度应包括长平晶本身自重变形量。长平晶各点的变形修正量按下式计算:
                      Fi=Δyi-△yo
式中Fi—长平晶在i点的自重变形修正量，μm;
    △yi—长平晶在i点的自重变形量，μm;
    △yo—长平晶在。点的自重变形量，μm。